华中科技大学分析测试中心于2013年1月23日完成大型仪器设备---场发射透射电子显微镜Tecnai G2 F30的验收。本次验收会邀请了武汉大学测试中心的童华教授、华中科技大学材料学院的乔学亮教授、华中科技大学生命学院的杨祥良教授，中心主任朱东风副处长和宋武林教授共同组成验收小组，对该设备的技术指标、主要功能等方面进行验收，并提出验收意见。
该设备整机造价1103.2万元。主要功能是：能够将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等）进行方便灵活地有机组合，形成了强大的分析功能，从而在同类型仪器中独占鳌头。除了具有200KV的各种优点外，该设备还提供了300KV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。同时，该设备使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。场发射透射电子显微镜Tecnai G2 F30通过验收并投入使用，标志着分析测试中心在材料的微观结构表征方面，测试水平有了质的提升。
