在物理吸附表征领域，比表面积 < 1 cm*3/g 的极低比表面积材料（以下简称“小比表样品”）的精确测定，长期是学术界与工业界共同面临的共性技术难题。近期，国仪量子研发团队协同华中科技大学分析测试中心微孔分析仪设备管理团队，聚焦小比表样品测试中的等温线交叉、信号反馈异常等核心瓶颈开展技术攻关，通过硬件改良与算法创新的双重驱动，成功实现了对此类样品的高精度表征。目前相关技术方案已完成验证，国仪量子 Sicope 40 微孔分析仪正式上线并开放共享服务。
功能定位：精准对接“高难度”表征需求
华中科技大学分析测试中心作为支撑全校科研创新的重要公共技术平台，致力于为材料、能源、化学及生命科学等多学科提供高水准的精密表征支持。结合各学院自主实验室提供的样品特性，SiCOPE 40微孔分析仪重点服务以下领域：
极端性质表征：针对信号反馈极弱的极低比表面积样品或需使用特殊气体的复杂吸附过程测试。
长时程深度分析：针对具有复杂孔道结构、平衡时间长的微孔材料，提供高稳定性的长周期测试环境。
技术回溯：小比表测试中的信号噪声挑战
2025年6月，国仪量子与华中科技大学分析测试中心达成战略合作协议，引入国仪量子Sicope40微孔分析仪。华中科技大学分析测试中心作为示范应用样板点，面向校内外提供该仪器免费测试服务，以实际应用反馈驱动技术迭代与产品优化，打造高水平表面结构分析平台。
在材料学院（如硬碳、生物质碳）及能源学院（如生物炭）提供的初期样品测试中，中心仪器管理团队反馈：微孔分析仪操作简便，经简单培训用户即可独立使用，但当样品量较少且比表面积极低时，物理吸附过程易受到环境扰动及系统残留误差的影响，出现等温线异常下降、吸附量呈负值、等温线交叉等异常问题。
图注：微弱吸附信号在系统背景噪声及温度漂移干扰下产生的非物理性波动
性能验证：确立行业领先的测试精度
面对这一行业共性难题，国仪量子研发团队快速响应，与分析测试中心设备管理团队深度协作，经多轮样本实测与仪器调优，最终形成以软硬件优化的综合解决方案，提升了小比表样品测试的准确性、平行性和重复性。
经系列优化后，研发团队与分析测试中心设备管理团队针对同类标样及学术样本开展多组对比实验。实验结果表明，SiCOPE 40测试结果均表现优秀。
图注：中国计量院GBW130365标样
图为优化后分测中心SiCOPE 40测试曲线（BET测试结果：0.1832）
比表面积及孔径推荐设备国仪量子比表面及孔径分析仪SiCOPE 40 介绍：
测试通量：4站并行测试
测试气体：N2、Ar、CO2、H2等其他非腐蚀性气体
测试范围：比表面积：0.0005 m2/g及以上；
孔径：0.35-500 nm孔径精准分析；
总孔体积：0.0001 cc/g及以上
测试精度：比表面积重复性（RSD）≤1.0%；最可几孔径重复偏差≤0.02 nm
分压范围：10-8~ 0.999
脱气处理：4站原位脱气；并配置独立样品预处理设备，独立6组控温
控温范围：室温~400 ℃，控温精度：±0.1 ℃
分析模型：BET比表面积、Langmuir表面积、t-plot分析、BJH、HK、DR/DA、NLDFT孔径分布
(来源：国仪量子）
